Isolator、Circulator 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
Isolator、Circulator 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品功能介紹
1. 自動(dòng)測(cè)試并計(jì)算IL、PDL、RLin、 RLout、 ISO、 CT、WDL、TDL等各種參數(shù)。
2. Circulator兼容器件和模塊\機(jī)箱掃描測(cè)試。支持高低溫測(cè)試，升降溫的自動(dòng)延時(shí)控制。
3. Isolator支持同時(shí)測(cè)試4個(gè)器件，利用高低溫等待時(shí)間提高測(cè)試產(chǎn)能和效率。
4. 自動(dòng)判定各種復(fù)雜的等級(jí)進(jìn)行產(chǎn)品等級(jí)挑選。
5. 自動(dòng)判定測(cè)試結(jié)果；所有數(shù)據(jù)通過(guò)SQL Server數(shù)據(jù)庫(kù)海量保存，自動(dòng)批量生成出貨報(bào)表。
測(cè)試界面示意圖
系統(tǒng)性能指標(biāo)
參數(shù) | 指標(biāo) | 單位 | ||
最小值 | 典型值 | 最大值 | ||
工作波長(zhǎng) | 1260 | 1620 | nm | |
測(cè)試指標(biāo) | IL/PDL/RL/DIR/CT/WDT//TDL,etc. | |||
插損（IL）不確定度 | ±0.05（光纖熔接測(cè)試） | db | ||
±0.1（連接頭測(cè)試） | ||||
PDL不確定度 | ±0.03 | db | ||
測(cè)量模式 | 點(diǎn)光源+功率計(jì) | |||
單通道掃描時(shí)間 | 15 | S | ||
單點(diǎn)PDL純測(cè)時(shí)間 | 3-5 | S | ||
可測(cè)產(chǎn)品類型 | Isolator/Circulator | |||
方案配置：
序號(hào) | 名稱、規(guī)格及描述 | 備注 |
1 | 可調(diào)光源 | 1250~1650nm |
2 | 光功率計(jì)，PDL偏振控制器 | |
3 | 光開(kāi)關(guān)：1X2,1X4,機(jī)械式測(cè)試級(jí)光開(kāi)關(guān) | 重復(fù)性≤0.01dB Repeatability≤0.01dB |
5 | 測(cè)試系統(tǒng)光路主機(jī) | 定制 |
6 | 測(cè)試工控電腦 | |
7 | GPIB card，GPIB cable： PCI-GPIB, GPIB-US-HS |
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